梅特勒荣获“第二届国际检验检测技术和装备博览会”金奖

  7月31日至8月2日，“第二届国际检验检测技术与装备博览会”（以下简称“检博会”）在北京国家会议中心举办。本届检博会以“高端技术、服务民生”为主题，以“质检、科技、国际”为特色，以“搭建国际平台，服务检测市场”为宗旨。检博会期间，全国质检系统技术中心、质检中心、重点实验室相关负责人及第三方检测机构、全国质量诚信企业代表到会参观洽谈，参展参会达上万人次。

  梅特勒-托利多作为参展商展示了最新的超越系列分析天平、快速水分测定仪等天平仪器等，同时，梅特勒-托利多还带来了针对第三方检测领域的仪器，如电位滴定仪-T50、卡尔费修水分仪-V20、熔点仪-MP90、Seven ExcellenceTM系列仪表-S400等。

  8月1日，梅特勒-托利多天平产品市场部何平于国家会议中心会议区三楼报告厅进行演讲。演讲内容为“检验检测机构实验室发展与技术品牌保障”，获得了行业内各位专家的认同。

  最终，梅特勒-托利多凭借良好的品牌，性能卓越的产品、优秀的实验室解决方案，获得本届检博会最高奖项“第二届国际检验检测技术和装备博览会”金奖。

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